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gb/t 2423.1-2008/iec60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗a:低溫試驗

本標準所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱里兩類試驗樣品.本標準僅限于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應性.

低溫試驗不能用來考核試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應選擇溫度變化試驗方法.

非散熱試驗樣品的低溫試驗:溫度突變和溫度漸變試驗2種類型;
散熱試驗樣品的低溫試驗: 溫度漸變試驗一種類型.

本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品.試驗持續(xù)時間從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算.在特殊情況下,如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定,則試驗持續(xù)時間從試驗箱達到規(guī)定試驗溫度時開始計算.

非散熱試驗樣品溫度突變或溫度漸變的低溫試驗嚴酷等級的選擇:
  
零下65攝氏度
零下55攝氏度
零下40攝氏度
零下25攝氏度
零下10攝氏度
零下5攝氏度
零上5攝氏度

溫度范圍可以正負偏差3度,試驗的持續(xù)時間一般有:2h,16h,72h,96h.或根據(jù)產(chǎn)品自身的使用環(huán)境選擇試驗時間。若試驗目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時是否正常工作，則試驗的時間只限于使樣品溫度達到穩(wěn)定。