gjb150.10a-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第10部分:霉菌試驗
霉菌試驗的目的在于評定裝備長霉的程度以及長霉對裝備性能或使用的影響程度.
霉菌試驗主要應(yīng)用于:
1.確定裝備或組件是否長霉;
2.霉菌在裝備上的生長速度;
3.霉菌在裝備上生長后對裝備及其任務(wù)完成和使用的安全性的影響;
4.裝備能否在環(huán)境中有效的貯存;
5.若有霉菌生長,有無簡單去除方法;
霉菌的產(chǎn)生對產(chǎn)品有哪些影響:
1.對材料的直接侵蝕.非抗霉材料易受直接侵蝕,因為霉菌能分解材料并將他們作為自己的養(yǎng)分.這就導(dǎo)致了裝備物理性能的裂化.
非抗霉材料有:天然材料和合成材料.
2.對材料的間接侵蝕.
霉菌試驗可使電氣和電子系統(tǒng)發(fā)生損壞,光學(xué)系統(tǒng)的損壞主要是由于間接侵蝕引起的,霉菌對光學(xué)系統(tǒng)中光的傳播能產(chǎn)生負面影響,阻塞精密活動部位,使干燥表面變潮濕并伴隨性能的下降.
試驗時間的確定:
一般試驗的最短時間為28天,由于長霉對試件產(chǎn)生的間接侵蝕和物理影響不可能在較短的試驗時間內(nèi)出現(xiàn),如果要求在確定長霉對試件的影響方面需要提高確定度或降低風(fēng)險時,則應(yīng)考慮試驗時間延長至84天.
霉菌試驗的菌種選擇:
黑曲霉,土曲霉,宛氏擬青霉,郝綠青霉,短柄帚霉,綠色木霉,黃曲霉,雜色曲霉,筍狀青霉,球毛殼霉.黑曲霉.
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機械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟研究所測量控制設(shè)備及系統(tǒng)實驗室 (簡稱MCDL)、機械工業(yè)測量控制設(shè)備及網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量檢測中心(簡稱TCDN)成立于2006年,隸屬于機械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟研究所,專業(yè)從事PROFIBUS、MODBUS、KNX、安全、EMC、功能安全等領(lǐng)域的標準研究制定、檢測、認證工作,屬非營利的中立第三方檢測機構(gòu)。設(shè)有多個檢測試驗室,擁有各類先進檢測儀器設(shè)備四百多臺套,高級工程師、博...