半導(dǎo)體美國bowman x射線熒光膜厚測(cè)試儀:詳述
1.元素范圍：鋁13到鈾92。
2.x射線激發(fā)能量：50 w(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
3.探測(cè)器：硅pin檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測(cè)量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素
4.過濾器/準(zhǔn)直器：4個(gè)初級(jí)濾波器與4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
5.聚焦：多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理：4096 多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理，包括x射線時(shí)間修正和防x射線積累
6.電腦：英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb ddr3內(nèi)存,微軟windows 7 專業(yè)64位等效
7.鏡頭：1/4 " cmos - 1280 x720 vga分辨率
8.電源：150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
9.工作環(huán)境：50°f(10°c)到104°f(40°c)小于98％ rh,無冷凝水
10.重量：32公斤
11.內(nèi)部尺寸：高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
12.外形尺寸：高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)
半導(dǎo)體美國博曼（bowman）x射線熒光膜厚測(cè)試儀 應(yīng)用領(lǐng)域：
1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
美國原裝博曼（bowman）x射線熒光膜厚測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域于分析電子部品電鍍層的厚度 ，各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析，各鍍層的成分比例分析等。美國原裝博曼膜厚儀用于高分辨硅-pin-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從13號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ，應(yīng)用于端子，連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽車配件．線路板，衛(wèi)浴，等行業(yè)，使用安全簡便，堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用，高分辨率探測(cè)器硅pin檢測(cè)器250 ev，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限
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