博曼鍍層膜厚測試儀、鍍層測厚儀、膜厚測試儀、X-射線鍍層測厚儀、可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀、實(shí)現(xiàn)了超微小面積、高精度無損測量 . 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度 . 可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. 可測元素范圍：鈦(Ti) –鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-92、0.1-0.8μm 、可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量、避免直接接觸或破壞被測物 . 膜厚儀、電鍍膜厚儀、膜厚測試儀、X-射線測厚儀、應(yīng)用于鐘表.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標(biāo).
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